項目的可靠性測試什么?

項目的可靠性測試什么?可靠性試驗應遵循設計的可靠性，但我們的工作主要是可靠性測試階段，這里前面的測試。于所測量的產(chǎn)品的可靠性(即，測量產(chǎn)品的平均無(wú)故障時(shí)間)，就需要拿出一些樣品，進(jìn)行測試，以做了很長(cháng)時(shí)間找到時(shí)間每個(gè)樣品的未按照計算與式第一節的平均無(wú)故障時(shí)間，當然，樣品的數量越多，則測試結果更準確。然而，這樣的理想的測試實(shí)際上是不可能的，因為這樣的試驗中，為了等到最后樣品失敗 - 的更長(cháng)難以想象需要所有樣品失效時(shí)間的考驗 - 成本需要高不可及。

　　在這里測試的可靠性：加速測試??(從而增加壓力*)，這樣的缺陷很快顯現;一大批專(zhuān)家后，很長(cháng)一段時(shí)間的統計數據，找到某種方式來(lái)增加壓力，轉換成數量的測試項目。如果產(chǎn)品已經(jīng)過(guò)測試，這些項目中，仍沒(méi)有明顯的缺陷，它顯示了該產(chǎn)品能至少達到一定程度的可靠性，轉換后可以計算的MTBF(取決于產(chǎn)品通過(guò)本這些試驗中，也沒(méi)有明顯的缺陷，這表明該產(chǎn)品還沒(méi)有達到容量的限制，因此在這種情況下，對應于產(chǎn)品的最小值為平均故障間隔時(shí)間)。下面其他的計算方法。 (*脅迫：指各種外部破壞性環(huán)境的產(chǎn)品，如在產(chǎn)品工作通過(guò)85℃比25℃下的應力在工作應力遭受大;高應力下工作，產(chǎn)品失效的可能性大大增加);

　　環(huán)境測試

　　產(chǎn)品在使用中，有不同的環(huán)境(一些安裝在室外，一些便攜式，一些安裝在板等)，其將受到在不同的環(huán)境應力(部分由在雨中風(fēng)濕，有的受到振動(dòng)和下降，一些由鹽霧腐蝕等)侵入;為了確認該產(chǎn)品可在這些情況下工作，國家標準，行標產(chǎn)品須模擬環(huán)境中的方法的一些測試項目，這些試驗包括：

　　1，高溫試驗(高溫作業(yè)，高溫儲存);

　　2，低溫試驗(低溫運行，??低溫儲存);

　　3，高低溫測試(溫度循環(huán)試驗，熱沖擊試驗);

　　4，高溫高濕試驗(蓄熱，熱循環(huán));

　　5，機械振動(dòng)試驗(隨機振動(dòng)試驗，振動(dòng)試驗掃描);

　　6，汽車(chē)運輸測試(模擬運輸試驗，碰撞測試);

　　7，機械沖擊試驗;

　　8，開(kāi)關(guān)電源測試;

　　9，電源拉偏試驗;

　　10，冷啟動(dòng)試驗;

　　11，鹽霧試驗;

　　12，淋雨試驗;

　　13，沙塵試驗;

　　上述相關(guān)國家標準環(huán)境測試如下(有些測試可能不相關(guān)GB，或者我還沒(méi)有發(fā)現)：

　　1，低溫試驗

　　根據GB/ T2423.1-89“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：低溫試驗試驗方法”;

　　GB / T2423.22-87“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法溫度試驗方法”

　　在低溫和溫度的測試。

　　溫度范圍：-70℃?10℃。

　　2，高溫試驗

　　根據GB/ T2423.2-89“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法高溫試驗”;GB / T2423.22-87“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法溫度試驗方法”

　　高溫測試和溫度測試。

　　溫度范圍：10℃?210℃

　　3，濕熱試驗

　　根據GB/ T2423.3-93“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法 - 恒定濕熱試驗”;

　　GB / T2423.4-93“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法 - 恒定濕熱試驗”

　　和恒定濕熱試驗恒定濕熱試驗。

　　濕度范圍：30%RH?100%RH

　　4，試模

　　根據GB/ T2423.16-90“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法試驗霉變”，在?？?。

　　5，鹽霧試驗

　　根據GB/ T2423.17-93“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法 - 鹽霧試驗”鹽霧試驗。

　　6，低氣壓試驗

　　按GB/ T2423.21-92“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：用于低壓測試測試方法”;

　　GB / T2423.25-92“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法低溫/低氣壓試驗”;

　　GB / T2423.26-92“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法高溫/低氣壓試驗”;

　　低壓試驗，高低溫/低氣壓試驗。測試范圍：-70℃?100℃0?760mmHg20%?95%RH。

　　7，振動(dòng)試驗

　　根據GB / T2423.10-95“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法振動(dòng)試驗”振動(dòng)試驗。

　　頻率范圍(機械振動(dòng)篩)：5?60赫茲(定頻振動(dòng)5?80Hz的)的3.5mm(滿(mǎn)載)的最大位移幅度。頻率范圍(電磁振動(dòng)臺)：5?3000HZ，最大位移25mmP-P。

　　8，沖擊試驗

　　根據GB / T2423.5-95“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：沖擊試驗測試方法”的沖擊

　　9，碰撞試驗

　　根據GB / T2423.6-95“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法碰撞試驗”，在碰撞試驗。

　　10，跌落試驗

　　根據GB / T2423.7-95“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法跌落并打開(kāi)測試”;

　　GB / T2423.8-95“電工電子產(chǎn)品的第二部分環(huán)境試驗：試驗方法的自由跌落試驗”跌落試驗。

　　說(shuō)明：13以上在遭遇外部環(huán)境的過(guò)程中實(shí)現了產(chǎn)品的更全面的概述;實(shí)際測試中，每一個(gè)產(chǎn)品都遠因為物業(yè)本身的使用環(huán)境也有很大的差別，企業(yè)根據產(chǎn)品的特點(diǎn)，選擇適當添加一些項目來(lái)測試(本項目相應的國家/行業(yè)標準要求必須測試項目當然，是進(jìn)行測試);也有根據特定產(chǎn)品的使用環(huán)境和使用方法，設計了一些新的測試項目，驗證產(chǎn)品是否長(cháng)期工作。

　　測試條件：試驗條件對于不同的產(chǎn)品是不一樣的;就拿高溫的考驗，有些產(chǎn)品需要高溫貯存試驗，有些索賠對一些產(chǎn)品進(jìn)行測試運行測試，高溫85℃的溫度，溫度高一些的產(chǎn)品為65℃進(jìn)行測試。但是，只有一個(gè)目的，那就是，至少要滿(mǎn)足國家/行業(yè)標準。測試產(chǎn)品的可靠性，發(fā)現國家/行標簽的產(chǎn)品是必需的，按照要求和準則的國家/主題行必須確定測試項目和測試方法，由此執行環(huán)境試驗的目的;

　　同樣的產(chǎn)品，在不同階段，測試條件是不一樣的;在一般情況下，通過(guò)研究和開(kāi)發(fā)，小批量試生產(chǎn)，大規模生產(chǎn)的三個(gè)階段的產(chǎn)物。在開(kāi)發(fā)階段，最嚴格的測試條件下(最大應力)，測試時(shí)間最短的延續;小批量試生產(chǎn)階段，適度的壓力測試，溫和的測試時(shí)間;批量生產(chǎn)階段，最小應力測試，測試時(shí)間短;三個(gè)階段在下面的表中的主要區別在于：

　　第一階段實(shí)驗實(shí)驗目的特性測試要求

　　研究設計缺陷，高利潤的設計應力的擴張，短期無(wú)故障

　　初步研究該產(chǎn)品是否符合可靠性壓力，很久沒(méi)有顯著(zhù)故障基層

　　大量生產(chǎn)的穩定性的低應力條件下，短期條件允許失敗可靠性鑒定識別產(chǎn)品，電腦產(chǎn)品的MTBF低應力，很長(cháng)一段時(shí)間沒(méi)有特別的要求

　　加速環(huán)境試驗

　　環(huán)境試驗傳統的測試方法是基于真實(shí)環(huán)境的模擬，被稱(chēng)為環(huán)境模擬試驗。這種測試方法的特點(diǎn)是：模擬真實(shí)環(huán)境，加上設計余量，以確保試驗合格。它的缺點(diǎn)是在測試效率不高，占用大量資源和考驗。 

　　加速環(huán)境試驗AET(AcceleratedEnvironmentalTesting)是一項新興技術(shù)的可靠性測試。的傳統可靠性試驗的技術(shù)思想的技術(shù)突破，所述測試激勵機制被引入到測試的可靠性，可大大減少測試時(shí)間和提高測試效率，并減少磨損試驗。在研究和應用推廣領(lǐng)域加速環(huán)境試驗具有可靠性工程的發(fā)展具有重要的現實(shí)意義。

　　加速環(huán)境試驗

　　激發(fā)試驗(刺激)施加壓力，刺激，清理快速檢測潛在的產(chǎn)品缺陷的環(huán)境。壓力測試不施加到模擬真實(shí)的環(huán)境中，并以提高激發(fā)效率為目標。 加速環(huán)境試驗是一種挑釁，它是通過(guò)一個(gè)密集壓力環(huán)境可靠性試驗。的加速環(huán)境試驗的加速水平經(jīng)常用來(lái)表示加速因子。用于生命和比在自然環(huán)境中加速環(huán)境的壽命的設備，服務(wù)加速因子被定義。 

　　所施加的應力可以是溫度，振動(dòng)，濕度和壓力(即，在所謂的“四合成”)，以及其它應力，合并的應力也有些場(chǎng)合激勵方法更有效。溫度循環(huán)和隨機振動(dòng)寬帶高溫變性是公認的應力激發(fā)的最有效的形式。加速環(huán)境試驗兩種基本類(lèi)型：加速壽命試驗(AcceleratedLifeTesting)，RET(ReliabilityEnhancementTesting)。 

　　RET(RET)以暴露早期失效和設計有關(guān)的產(chǎn)品的失敗，但也可用于確定隨機故障的拉伸強度在產(chǎn)品的使用壽命。加速壽命試驗的目的是要找出產(chǎn)品如何發(fā)生，當它發(fā)生時(shí)，為何失敗發(fā)生磨損。

　　以下是兩種基本類(lèi)型的簡(jiǎn)單集合

　　1，加速壽命試驗(ALT)

　　加速壽命僅為組件，材料和工藝方法，用于確定部件，材料和生活生產(chǎn)工藝測試。其目的是不暴露缺陷，而是以識別并在產(chǎn)品損失的壽命和故障機制結束量化導致故障。有時(shí)產(chǎn)品的壽命很長(cháng)，為了給產(chǎn)品的生命周期，加速壽命試驗必須足夠長(cháng)。 

　　加速壽命試驗是基于以下假設：在短時(shí)間內即測試物品，高應力表現出在長(cháng)期，低應力的產(chǎn)品的特性表現特征是相同的。為了縮短測試時(shí)間，使用加速應力，所謂的高加速壽命測試(暫停模式)。 

　　加速壽命試驗數據提供有價(jià)值的產(chǎn)品可能會(huì )穿機制，這是在當今市場(chǎng)的關(guān)鍵，隨著(zhù)越來(lái)越多的消費者購買(mǎi)其產(chǎn)品使用壽命的要求。加速壽命試驗只是其中的預計使用壽命。它使設計師和產(chǎn)品制造商有確定的關(guān)鍵零部件，材料和工藝的更全面的了解，并根據需要改進(jìn)和控制。獲得進(jìn)一步的實(shí)驗數據，使制造商和消費類(lèi)產(chǎn)品有充分的??信心。

　　加速壽命測試對象是來(lái)樣產(chǎn)品。 

　　2，RET(RET)

　　RET有許多名稱(chēng)和形式，如一個(gè)步進(jìn)應力試驗，應力壽命試驗(STRIEF)，高加速壽命測試(暫停)等。 RET的目的是通過(guò)施加環(huán)境壓力和工作壓力增大系統刺激失敗和暴露的弱點(diǎn)，在設計中，為了評價(jià)產(chǎn)品設計的可靠性實(shí)現。所以，RET應當在產(chǎn)品設計和開(kāi)發(fā)周期的初始階段中實(shí)現，以便修改設計。

　　可靠性外國研究者和學(xué)者在20世紀80年代初，因為設計潛在缺陷注意到了大量的殘渣，以提高可靠性提供了相當大的空間，除了價(jià)格和開(kāi)發(fā)周期問(wèn)題也是當今市場(chǎng)競爭的焦點(diǎn)。有研究表明，RET視為解決這一問(wèn)題的最佳途徑之一。它得到高得多的可靠性比傳統方法，更重要的是，它可以在很短的時(shí)間較早獲得可靠性不需要冗長(cháng)可靠性增長(cháng)(TAAF)，從而降低了成本傳統的方法。